记录一次STM32F031 ADC采样不准问题

问题现象1:使用300K、100K分压电阻，ADC DMA连续采集电池的电压值偏低

原因：外部分压电阻阻值太大，带载能力不够。单片机输入阻抗太小，使用ADC连续转换，持续对采样电容充放电，始输入阻抗进一步降低

解决办法：将ADC连续转换改为单次转换，使用定时器或者其他方式，周期启动ADC转换，即降低采样频率。

 

问题现象2：采集电压比实际值大

原因：HAL库生成的ADC驱动程序，没有ADC校准

解决办法：在完成ADC配置，启动ADC之前，调用    HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);  进行一次校准。