晶振测试仪 GDS-80 是一款高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合 IEC-444 标准。其测量频率范围为 20KHz-100MHz，能够对晶振的多种参数进行精确测量，广泛应用于晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业等生产和科研领域。晶振测试仪 GDS-80 是一款高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合 IEC-444 标准。其测量频率范围为 20KHz-100MHz，能够对晶振的多种参数进行精确测量，广泛应用于晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业等生产和科研领域。
一、测试频率范围
GDS-80 的测试频率范围为 20KHz-100MHz，用户可以根据实际需求在这一范围内任意设定中心频率，以适应不同类型的晶振测试。
二、负载电容
负载电容是晶振测试中的重要参数，GDS-80 允许在 4-20pF 范围内任意设定负载电容，满足不同负载电容的晶振测试需求。
三、负载谐振电阻
GDS-80 能够测量负载谐振电阻，其测量范围为 1Ω-300Ω 和 1K-300K，为用户提供精确的电阻值，帮助评估晶振的性能。
四、PPm 范围测量
PPm（百万分之一）范围测量是评估晶振频率稳定性的关键指标，GDS-80 的 PPm 测量范围为 ±300ppm，测量精度小于 0.5ppm，确保了高精度的频率测量。
五、时基频率
时基频率是晶振测试仪的基准频率，GDS-80 的时基频率为 16.384MHz，为测量提供高精度的时间基准。
六、晶振稳定性
晶振稳定性是衡量晶振长期频率稳定性的指标，GDS-80 的晶振稳定性为 2×10⁻⁸/日，确保了长时间测试的准确性。
七、其他参数
除了上述参数，GDS-80 还具备多种测量功能，包括串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数和频率牵引力等。这些参数的测量为用户提供全面的晶振性能评估。
综上所述，晶振测试仪 GDS-80 以其宽广的测试频率范围、高精度的测量能力和丰富的测试参数，成为电子行业中不可或缺的测试工具。
